Sejarah Pengukuran Kelajuan Cahaya

Kelajuan cahaya telah sering diukur oleh mahir Fisika. Pengukuran awal yang paling baik dilakukan oleh Olaus Roemer (ahli Fisika Denmark), pada 1676. Beliau membuat kaedah mengukur kelajuan cahaya. Beliau mendapati dan telah mencatatkan pergerakan planet Saturnus dan satu dari bulannya dengan memakai teleskop. Rolmer mendapati bahwa bulan tersebut mengorbit Saturnus sekali setiap 42½ jam. Masalahnya ialah apabila bumi dan Saturnus berjauhan, putaran orbit bulan tersebut kelihatan bertambah. Ini menunjukkan cahaya memerlukan waktu lebih usang untuk hingga ke Bumi. Dengan ini kelajuan cahaya sanggup diperhitungkan dengan menganalisa jarak antara planet pada masa-masa tertentu. Roemer mencapai kelajuan 227.000 kilometer per sekon.

Albert A. Michelson memperbaiki hasil kerja Roemer pada tahun 1926. Dia memakai cermin berputar untuk mengukur waktu yang diambil cahaya untuk pergi balik dari Gunung Wilson ke Gunung San Antonio di California. Ukuran jitu menghasilkan kelajuan 299.796 kilometer/sekon. Dalam penggunaan sehari-hari, jumlah ini dibulatkan menjadi 300.000 kilometer/sekon.

Ellipsometer Sederhana

Ellipsometer ialah suatu alat yang sanggup dipergunakan untuk pengukuran sifat-sifat optik dari suatu media yang didasarkan pada analisis fenomena pantulan sinar terhadap suatu media tersebut yaitu perubahan pengutuban (polarization) sinar dengan panjang gelombang tertentu yang terjadi sewaktu sinar dipantulkan atau diteruskan pada media tersebut. Dengan menganalisa perubahan intensitas sinar akhir pantulan gelombang tersebut, maka dimungkinkan untuk mengetahui aneka macam parameter sifat optik ibarat parameter indek bias, ketebalan, koefisien serapan, dan lain-lain dari medium yang dikenainya.

Beberapa faktor laba yang sanggup diperoleh dari alat ini antara lain: (i) tidak mengganggu sifat-sifat fisis dari permukaan sampel yang diukurnya untuk panjang gelombang tertentu yang sanggup dipilih, (ii) cukup sensitif untuk pengukuran antarmuka (interface) dari suatu struktur media yang mempunyai ukuran cukup kecil, (iii) sanggup dioperasikan pada udara bebas (tidak harus pada kondisi khusus ibarat ruang hampa), dan (iv) sanggup diperoleh hasil secara pribadi (in situ) dari pengukuran. Secara umum alat ellipsometer sanggup dipergunakan untuk mengukur sifat-sifat optik suatu materi baik padat maupun cair yang mempunyai sifat isotropik (sifat optik tidak tergantung arah) ataupun anisotropik (sifat optik tergantung arah). Selain itu media yang akan diukur sanggup berupa lapisan tipis (thin film) atau berupa lapisan yang tebal (bulk).